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Tecniche di Microscopia SEM, TEM, FIB-SEM, AFM, µCT

Consumabili e Accessori per SEM e TEM

Tribometri, profilometri e nanoindentatori

Diffrazione e Fluorescenza a Raggi X

Sistemi di processo MBE ed EBL

Analisi Chimica Superficiale XPS e TOF-SIMS

Preparazione Campioni SEM, TEM, EBSD

Metrologia per semiconduttori, TXRF, WDXRF

Assing security

Law enforcement e falso documentale

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Spettrometria di Massa Isotopica Alta Risoluzione

Diffrattometri XRD

La diffrazione a raggi X di polveri (XRD) permette la determinazione della struttura cristallina dei materiali, l’identificazione delle fasi in un campione e la loro quantificazione ponderale; lo studio dell’amorfo e del grado di cristallinità dei componenti.

Alcune altre applicazioni:

Analisi di film sottili e misura del loro spessore mediante riflettometria nel settore dei semiconduttori e dell’optoelettronica

Analisi di tensioni residue e delle tessiture nelle leghe metalliche

Studi cinetici e di trasformazione di fase con camere a bassa ed alta temperatura

Microdiffrazione con spot fino ad un minimo di 10 micron con generatori ad anodo rotante ad alta brillanza

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