La diffrazione a raggi X di polveri (XRD) permette la determinazione della struttura cristallina dei materiali, l’identificazione delle fasi in un campione e la loro quantificazione ponderale; lo studio dell’amorfo e del grado di cristallinità dei componenti.
Alcune altre applicazioni:
Analisi di film sottili e misura del loro spessore mediante riflettometria nel settore dei semiconduttori e dell’optoelettronica
Analisi di tensioni residue e delle tessiture nelle leghe metalliche
Studi cinetici e di trasformazione di fase con camere a bassa ed alta temperatura
Microdiffrazione con spot fino ad un minimo di 10 micron con generatori ad anodo rotante ad alta brillanza