Lavora con noi
Assing Group
Home Page
Prodotti
Tecniche di Microscopia SEM, TEM, FIB-SEM, AFM, µCT
Microscopi elettronici a scansione SEM, FEG-SEM e FIB-SEM
Microanalizzatori elementari EDX e WDX, diffrazione elettronica EBSD
Microscopi a Forza Atomica AFM
Microscopi a Forza Atomica integrati nei SEM per Correlativa C-PEM
Sistemi per MicroTomografia a Raggi X µCT
Consumabili e accessori per SEM e TEM
Consumabili e Accessori per SEM, TEM e EDX
Nano Robots per manipolazione e caratterizzazione Elettrica nei SEM
Tribometri, profilometri e nanoindentatori
Tribometri
Profilometri Ottici e a Stilo
Nanoindentatori
Diffrazione e Fluorescenza a Raggi X
Diffrattometri XRD
Spettrometri a raggi X
Sistemi XRD e XRF Portatili
Sistemi di processo MBE e EBL
Sistemi per Litografia Elettronica
Sistemi completi per deposizione MBE
Analisi Chimica Superficiale XPS e TOF-SIMS
Sistemi di analisi superficiale XPS – Auger
Sistemi TOF-SIMS
Preparazione Campioni SEM, TEM, EBSD
Metallizzatori e Carbonatori per SEM e TEM
Preparazione avanzata per campioni per SEM, TEM, EBSD
Tecniche di disidratazione campioni biologici
Metrologia per semiconduttori, TXRF, WDXRF
Spettrofotometri TXRF
Spettrofotometri WDXRF
Security
Falso Documentale
Identificazione Balistica
Indagini CSI
Tecniche di Spettrometria di Massa Isotopica ad Alta Risoluzione
Servizi
Certificazioni
Contatti
search
language
Language:
Italiano
English
Française
Home Page
Prodotti
Tecniche di Microscopia SEM, TEM, FIB-SEM, AFM, µCT
Microscopi elettronici a scansione SEM, FEG-SEM e FIB-SEM
Microanalizzatori elementari EDX e WDX, diffrazione elettronica EBSD
Microscopi a Forza Atomica AFM
Microscopi a Forza Atomica integrati nei SEM per Correlativa C-PEM
Sistemi per MicroTomografia a Raggi X µCT
Consumabili e accessori per SEM e TEM
Consumabili e Accessori per SEM, TEM e EDX
Nano Robots per manipolazione e caratterizzazione Elettrica nei SEM
Tribometri, profilometri e nanoindentatori
Tribometri
Profilometri Ottici e a Stilo
Nanoindentatori
Diffrazione e Fluorescenza a Raggi X
Diffrattometri XRD
Spettrometri a raggi X
Sistemi XRD e XRF Portatili
Sistemi di processo MBE e EBL
Sistemi per Litografia Elettronica
Sistemi completi per deposizione MBE
Analisi Chimica Superficiale XPS e TOF-SIMS
Sistemi di analisi superficiale XPS – Auger
Sistemi TOF-SIMS
Preparazione Campioni SEM, TEM, EBSD
Metallizzatori e Carbonatori per SEM e TEM
Preparazione avanzata per campioni per SEM, TEM, EBSD
Tecniche di disidratazione campioni biologici
Metrologia per semiconduttori, TXRF, WDXRF
Spettrofotometri TXRF
Spettrofotometri WDXRF
Security
Falso Documentale
Identificazione Balistica
Indagini CSI
Tecniche di Spettrometria di Massa Isotopica ad Alta Risoluzione
Servizi
Certificazioni
Contatti
Grazie per averci contattato
Grazie per averci contattato!
Risponderemo al più presto.
Torna alla home
Menu
