Lavora con noi
Assing Group
Home Page
Prodotti
Tecniche di Microscopia SEM, FIB-SEM, AFM, µCT
Microscopi elettronici a scansione SEM, FEG-SEM e FIB-SEM
Microanalizzatori elementari EDX e WDX, diffrazione elettronica EBSD
Microscopi a Forza Atomica AFM
Microscopi a Forza Atomica integrati nei SEM per Correlativa C-PEM
Sistemi per MicroTomografia a Raggi X µCT
Consumabili e accessori per SEM e TEM
Consumabili e Accessori per SEM, TEM e EDX
Nano Robots per manipolazione e caratterizzazione Elettrica nei SEM
Tecniche di caratterizzazione della superficiale
Tribometri
Profilometri Ottici e a Stilo
Nanoindentatori
Diffrazione e Fluorescenza a Raggi X
Diffrattometri XRD
Spettrometri a raggi X
Sistemi XRD e XRF Portatili
Sistemi di processo MBE e EBL
Sistemi per Litografia Elettronica
Sistemi completi per deposizione MBE
Analisi Chimica Superficiale XPS e TOF-SIMS
Sistemi di analisi superficiale XPS – Auger
Sistemi TOF-SIMS
Preparazione Campioni SEM, TEM, EBSD
Metallizzatori e Carbonatori per SEM e TEM
Preparazione avanzata per campioni per SEM, TEM, EBSD
Tecniche di disidratazione campioni biologici
Metrologia per semiconduttori, TXRF
Spettrofotometri TXRF
Spettrofotometri WDXRF
Security
Falso Documentale
Identificazione Balistica
Indagini CSI
Tecniche di Spettrometria di Massa Isotopica ad Alta Risoluzione
Servizi
Qualità
Contatti
search
language
Language:
Italiano
English
Française
Home Page
Prodotti
Tecniche di Microscopia SEM, FIB-SEM, AFM, µCT
Microscopi elettronici a scansione SEM, FEG-SEM e FIB-SEM
Microanalizzatori elementari EDX e WDX, diffrazione elettronica EBSD
Microscopi a Forza Atomica AFM
Microscopi a Forza Atomica integrati nei SEM per Correlativa C-PEM
Sistemi per MicroTomografia a Raggi X µCT
Consumabili e accessori per SEM e TEM
Consumabili e Accessori per SEM, TEM e EDX
Nano Robots per manipolazione e caratterizzazione Elettrica nei SEM
Tecniche di caratterizzazione della superficiale
Tribometri
Profilometri Ottici e a Stilo
Nanoindentatori
Diffrazione e Fluorescenza a Raggi X
Diffrattometri XRD
Spettrometri a raggi X
Sistemi XRD e XRF Portatili
Sistemi di processo MBE e EBL
Sistemi per Litografia Elettronica
Sistemi completi per deposizione MBE
Analisi Chimica Superficiale XPS e TOF-SIMS
Sistemi di analisi superficiale XPS – Auger
Sistemi TOF-SIMS
Preparazione Campioni SEM, TEM, EBSD
Metallizzatori e Carbonatori per SEM e TEM
Preparazione avanzata per campioni per SEM, TEM, EBSD
Tecniche di disidratazione campioni biologici
Metrologia per semiconduttori, TXRF
Spettrofotometri TXRF
Spettrofotometri WDXRF
Security
Falso Documentale
Identificazione Balistica
Indagini CSI
Tecniche di Spettrometria di Massa Isotopica ad Alta Risoluzione
Servizi
Qualità
Contatti
Shop
Visualizzazione di 1-10 di 85 risultati
Ordinamento predefinito
Popolarità
Ordina in base al più recente
Prezzo: dal più economico
Prezzo: dal più caro
Dimension ICON XR
Leggi tutto
Multimode 8-HR
Leggi tutto
Dimension Edge
Leggi tutto
Innova
Leggi tutto
JPK NanoWizard 4 XP
Leggi tutto
JPK NanoRacer
Leggi tutto
Sonde, Punte e Cantilever AFM
Leggi tutto
Anasys NanoIR3
Leggi tutto
Anasys NanoIR3-s
Leggi tutto
Anasys NanoIR3-s Broadband
Leggi tutto
Navigazione articoli
1
2
3
4
…
9
Successivi
Menu