FE-SEM MIRA

Microscopi ad Emissione di Campo FE-SEM

FE-SEM MIRA

Microscopi ad Emissione di Campo FE-SEM

Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo TESCAN MIRA FE-SEM di quarta generazione, caratterizzato da un’esclusiva architettura della colonna elettronica.

Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo TESCAN MIRA FE-SEM di quarta generazione, caratterizzato da un’esclusiva architettura della colonna elettronica.

Il microscopio elettronico a scansione a emissione di campo TESCAN MIRA FE-SEM di quarta generazione è caratterizzato da un’esclusiva architettura della colonna elettronica a tre lenti che consente un’operatività estremamente semplificata rispetto al segmento tecnologico di riferimento.

Tale semplicità ed immediatezza di utilizzo lo rendono uno strumento particolarmente adatto per la caratterizzazione di un’ampia gamma di materiali in laboratori sia di analisi qualità che di ricerca e sviluppo.

Il microscopio elettronico a scansione a emissione di campo TESCAN MIRA FE-SEM di quarta generazione è caratterizzato da un’esclusiva architettura della colonna elettronica a tre lenti che consente un’operatività estremamente semplificata rispetto al segmento tecnologico di riferimento.

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