JPK NanoWizard 4 XP

JPK NanoWizard 4 XP

Soluzioni AFM facili da usare per la ricerca su: cellule viventi e tessuti; singola molecola; scienza dei materiali.

Soluzioni AFM facili da usare per la ricerca su: cellule viventi e tessuti; singola molecola; scienza dei materiali.

JPK Instruments, ora parte della divisione Bruker Nano Surfaces Division, è leader mondiale nella produzione di strumenti nanoanalitici per una vasta gamma di applicazioni: dalla fisica dei materiali “soffici” alla nano-ottica, dalla chimica di superficie alla biologia molecolare e cellulare, alla biomedicina.

I prodotti JPK si suddividono in quattro grandi gruppi: microscopi a forza atomica; optical tweezer e trappole ottiche; sistemi di Automated Force Spectroscopy e sistemi per la meccanica e l’adesione cellulare/tessutale.

  • Tip scanning AFM con possibilità d’utilizzo “standing alone” ovvero sfruttando la perfetta integrazione con microscopi diritti o rovesciati; compatibile con la microscopia a fluorescenza ad alta risoluzione (FCS, FRET TIRF, FLIM, PALM, STORM) per acquisizioni di immagini in fluorescenza e AFM simultanee
  • Imaging quantitativo ad alta velocità ed alta risoluzione per monitorare e tracciare processi dinamici
  • Implementazione di una vasta gamma di modi elettrici e di accessori; caratterizzazione dei campioni possibile in liquido, in aria e in ambiente controllato
  • Possibilità di accoppiamento con spettrometri Raman
  • Elettronica avanzata con il controller Vortis 2

JPK Instruments, ora parte della divisione Bruker Nano Surfaces Division, è leader mondiale nella produzione di strumenti nanoanalitici per una vasta gamma di applicazioni: dalla fisica dei materiali “soffici” alla nano-ottica, dalla chimica di superficie alla biologia molecolare e cellulare, alla biomedicina.

I prodotti JPK si suddividono in quattro grandi gruppi: microscopi a forza atomica; optical tweezer e trappole ottiche; sistemi di Automated Force Spectroscopy e sistemi per la meccanica e l’adesione cellulare/tessutale.

  • Tip scanning AFM con possibilità d’utilizzo “standing alone” ovvero sfruttando la perfetta integrazione con microscopi diritti o rovesciati; compatibile con la microscopia a fluorescenza ad alta risoluzione (FCS, FRET TIRF, FLIM, PALM, STORM) per acquisizioni di immagini in fluorescenza e AFM simultanee
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