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Microscopi a Forza Atomica per SEM

Il sistema Litescope della Nenovision combina entrambe le tecniche AFM e SEM.Grazie alla tecnica brevettata CPEM , Correlative Probe and Electron Microscopy , consente di acquisire contemporaneamente ed in real time immagini AFM e SEM della stessa area.

 

Microscopi a Forza Atomica per SEM

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