Strumento Portatile (peso inferiore a due chili), user friendly, fondamentale nell’ambito dei Beni Culturali, per analisi non distruttive e non invasive di superfici senza contatto e per operazioni di screening e di mappatura del campione. Esegue la caratterizzazione chimico-strutturale di manufatti e reperti grazie alla combinazione di più tecniche analitiche.
Surface Monitor
Strumento Combinato XRF-XRD – Made by ASSING.
Esegue misure sul campo, con prestazioni paragonabili a quelle degli strumenti da laboratorio, in un range elementare compreso fra lo 16S e 92U in aria, e in flusso di He si possono determinare anche gli elementi dal 15P al 11Na.
Applica l’analisi diffrattometrica come supporto a completamento della caratterizzazione chimica per fluorescenza X.
Sfrutta una tecnica, denominata 3D, che per ogni step angolare permette di acquisire l’intero spettro energetico consentito dal tubo X, e quindi di ricostruire il classico diffrattogramma bidimensionale “2Theta/Intensità” (come se fosse ottenuto da una unica lunghezza d’onda λ), integrando tutti gli spettri ottenuti con l’intera gamma delle lunghezze d’onda λn.
Il Surface Monitor è configurabile in base alle esigenze dell’End User, che può scegliere di acquisire:
- Uno spettrometro RAMAN, per estendere la caratterizzazione del materiale.
- Un tubo con l’anticatodo più appropriato, per ottimizzare le performance del sistema diffrattometrico
- Un target in Cu o Cr, per migliorare la risoluzione e sensibilità nella diffrazione X, limitando l’impiego dello spettrometro per l’analisi elementare qualitativa o semiquantitativa.
Strumento Portatile (peso inferiore a due chili), user friendly, fondamentale nell’ambito dei Beni Culturali, per analisi non distruttive e non invasive di superfici senza contatto e per operazioni di screening e di mappatura del campione. Esegue la caratterizzazione chimico-strutturale di manufatti e reperti grazie alla combinazione di più tecniche analitiche.
Esegue misure sul campo, con prestazioni paragonabili a quelle degli strumenti da laboratorio, in un range elementare compreso fra lo 16S e 92U in aria, e in flusso di He si possono determinare anche gli elementi dal 15P al 11Na.
Applica l’analisi diffrattometrica come supporto a completamento della caratterizzazione chimica per fluorescenza X.
Sfrutta una tecnica, denominata 3D, che per ogni step angolare permette di acquisire l’intero spettro energetico consentito dal tubo X, e quindi di ricostruire il classico diffrattogramma bidimensionale “2Theta/Intensità” (come se fosse ottenuto da una unica lunghezza d’onda λ), integrando tutti gli spettri ottenuti con l’intera gamma delle lunghezze d’onda λn.
Il Surface Monitor è configurabile in base alle esigenze dell’End User, che può scegliere di acquisire:
- Uno spettrometro RAMAN, per estendere la caratterizzazione del materiale.
- Un tubo con l’anticatodo più appropriato, per ottimizzare le performance del sistema diffrattometrico
- Un target in Cu o Cr, per migliorare la risoluzione e sensibilità nella diffrazione X, limitando l’impiego dello spettrometro per l’analisi elementare qualitativa o semiquantitativa.
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