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TS 77 Select

TS 77 Select

Nanoindentatore Entry Level

TS 77 Select

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Il TS 77 Select è un sistema appositamente progettato per supportare le tecniche di test nanomeccanici fondamentali e per soddisfare le esigenze di caratterizzazione della ricerca accademica e industriale.

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Il TS 77 Select è un sistema appositamente progettato per supportare le tecniche di test nanomeccanici fondamentali e per soddisfare le esigenze di caratterizzazione della ricerca accademica e industriale.

Caratteristiche Specifiche tecniche

Il TS 77 Select è un sistema appositamente progettato per supportare le tecniche di test nanomeccanici fondamentali e per soddisfare le esigenze di caratterizzazione della ricerca accademica e industriale. La microscopia a scansione di sonda in-situ (in-situ Scanning Probe Microscopy) è inclusa come standard e fornisce l’identificazione delle condizioni della superficie e delle caratteristiche di test, un’accuratezza nel posizionamento della sonda di test di ±25 nm e uno studio post-test del comportamento di deformazione del materiale.

Il TS 77 Select è un sistema flessibile ottimizzato per misurazioni meccaniche quantitative e facilità d’uso. La mappatura delle proprietà ad alta velocità viene inclusa come standard. Una velocità di 2 misurazioni di nanoindentazione al secondo consente la mappatura delle proprietà meccaniche ad alta risoluzione con solide statistiche di distribuzione.

Trasduttore capacitivo monodimensionale (1D), con:
- risoluzione di spostamento normale <0.01 nm;
- spostamento totale dell’indentatore nella direzione verticale: ~ 50 mm;
- profondità di indentazione massima: > 5 µm
- drift termico <0,1 nm/s
Carico normale massimo: 10 mN (con risoluzione <5 nN); forza di contatto minima <500 nN
In-situ SPM Imaging, con:
- forza minima < 1μN;
- scan rate: 0,01Hz-3,0Hz;
- risoluzione della scansione: 256 x 256 linee per immagine;
- massimo volume di scansione: 50 μm x 50 μm x 4μm;
- accuratezza nel posizionamento della sonda: ±25 nm
3D Wear Testing: corsa aggiustabile da <1 μm a 50 μm, con intervallo di carico normale da 1 μN a 1 mN
Slitte di traslazione XYZ motorizzate con corsa 150 mm x 150 mm x 50 mm; massima area del campione: 75 mm x 75 mm
Architettura di controllo elettronico digitale, DSP, FPGA con data acquisition rate fino a 10000 punti/ s; tempo di carico da 0,1 s a 2000 s
Microscopio ottico con risoluzione ottica < 5 μm; obiettivo 10X, zoom digitale: 0,5 X – 11 X; massimo FOV: 16 μm x 12 μm
Isolamento dall’ambiente: antivibrazionale passivo, acustico, termico
Opzioni possibili:
- Trasduttore capacitivo bidimensionale (2D), con: risoluzione di spostamento laterale <0.01 nm;
  minimo spostamento laterale: 500 nm e massimo spostamento laterale: 15 µm
  drift termico <0,1 nm/s
- Carico laterale massimo 2 mN (con risoluzione <250 nN)
- Trasduttore di nanoindentazione dinamica, con: intervallo di frequenze: 0,1 Hz – 100 Hz, ampiezza massima di forza: 5 mN, massima ampiezza di spostamento dinamico: 2,5 μm

Caratteristiche Specifiche tecniche

Il TS 77 Select è un sistema appositamente progettato per supportare le tecniche di test nanomeccanici fondamentali e per soddisfare le esigenze di caratterizzazione della ricerca accademica e industriale. La microscopia a scansione di sonda in-situ (in-situ Scanning Probe Microscopy) è inclusa come standard e fornisce l’identificazione delle condizioni della superficie e delle caratteristiche di test, un’accuratezza nel posizionamento della sonda di test di ±25 nm e uno studio post-test del comportamento di deformazione del materiale.

Il TS 77 Select è un sistema flessibile ottimizzato per misurazioni meccaniche quantitative e facilità d’uso. La mappatura delle proprietà ad alta velocità viene inclusa come standard. Una velocità di 2 misurazioni di nanoindentazione al secondo consente la mappatura delle proprietà meccaniche ad alta risoluzione con solide statistiche di distribuzione.

Trasduttore capacitivo monodimensionale (1D), con:
- risoluzione di spostamento normale <0.01 nm;
- spostamento totale dell’indentatore nella direzione verticale: ~ 50 mm;
- profondità di indentazione massima: > 5 µm
- drift termico <0,1 nm/s
Carico normale massimo: 10 mN (con risoluzione <5 nN); forza di contatto minima <500 nN
In-situ SPM Imaging, con:
- forza minima < 1μN;
- scan rate: 0,01Hz-3,0Hz;
- risoluzione della scansione: 256 x 256 linee per immagine;
- massimo volume di scansione: 50 μm x 50 μm x 4μm;
- accuratezza nel posizionamento della sonda: ±25 nm
3D Wear Testing: corsa aggiustabile da <1 μm a 50 μm, con intervallo di carico normale da 1 μN a 1 mN
Slitte di traslazione XYZ motorizzate con corsa 150 mm x 150 mm x 50 mm; massima area del campione: 75 mm x 75 mm
Architettura di controllo elettronico digitale, DSP, FPGA con data acquisition rate fino a 10000 punti/ s; tempo di carico da 0,1 s a 2000 s
Microscopio ottico con risoluzione ottica < 5 μm; obiettivo 10X, zoom digitale: 0,5 X – 11 X; massimo FOV: 16 μm x 12 μm
Isolamento dall’ambiente: antivibrazionale passivo, acustico, termico
Opzioni possibili:
- Trasduttore capacitivo bidimensionale (2D), con: risoluzione di spostamento laterale <0.01 nm;
  minimo spostamento laterale: 500 nm e massimo spostamento laterale: 15 µm
  drift termico <0,1 nm/s
- Carico laterale massimo 2 mN (con risoluzione <250 nN)
- Trasduttore di nanoindentazione dinamica, con: intervallo di frequenze: 0,1 Hz – 100 Hz, ampiezza massima di forza: 5 mN, massima ampiezza di spostamento dinamico: 2,5 μm

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Specifiche tecniche

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