TS 77 Select

Nanoindentatore Entry Level

TS 77 Select

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Il TS 77 Select è un sistema appositamente progettato per supportare le tecniche di test nanomeccanici fondamentali e per soddisfare le esigenze di caratterizzazione della ricerca accademica e industriale.

Il TS 77 Select è un sistema appositamente progettato per supportare le tecniche di test nanomeccanici fondamentali e per soddisfare le esigenze di caratterizzazione della ricerca accademica e industriale.

Il TS 77 Select è un sistema appositamente progettato per supportare le tecniche di test nanomeccanici fondamentali e per soddisfare le esigenze di caratterizzazione della ricerca accademica e industriale. La microscopia a scansione di sonda in-situ (in-situ Scanning Probe Microscopy) è inclusa come standard e fornisce l’identificazione delle condizioni della superficie e delle caratteristiche di test, un’accuratezza nel posizionamento della sonda di test di ±25 nm e uno studio post-test del comportamento di deformazione del materiale.

Il TS 77 Select è un sistema flessibile ottimizzato per misurazioni meccaniche quantitative e facilità d’uso. La mappatura delle proprietà ad alta velocità viene inclusa come standard. Una velocità di 2 misurazioni di nanoindentazione al secondo consente la mappatura delle proprietà meccaniche ad alta risoluzione con solide statistiche di distribuzione.

Il TS 77 Select è un sistema appositamente progettato per supportare le tecniche di test nanomeccanici fondamentali e per soddisfare le esigenze di caratterizzazione della ricerca accademica e industriale. La microscopia a scansione di sonda in-situ (in-situ Scanning Probe Microscopy) è inclusa come standard e fornisce l’identificazione delle condizioni della superficie e delle caratteristiche di test, un’accuratezza nel posizionamento della sonda di test di ±25 nm e uno studio post-test del comportamento di deformazione del materiale.

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