UHR FE-SEM CLARA

Microscopi ad Emissione di Campo FE-SEM di Classe UHR

UHR FE-SEM CLARA

Microscopi ad Emissione di Campo FE-SEM di Classe UHR

Il nuovissimo UHR FE-SEM TESCAN CLARA è un microscopio elettronico a scansione ad ultra-alta risoluzione progettato per garantire elevatissime performance di imaging e di analisi sui più diversi campioni nelle più diverse condizioni operative.

Il nuovissimo UHR FE-SEM TESCAN CLARA è un microscopio elettronico a scansione ad ultra-alta risoluzione progettato per garantire elevatissime performance di imaging e di analisi sui più diversi campioni nelle più diverse condizioni operative.

Il nuovissimo UHR FE-SEM TESCAN CLARA è un microscopio elettronico a scansione ad ultra-alta risoluzione progettato per garantire elevatissime performance di imaging e di analisi sui più diversi campioni nelle più diverse condizioni operative. Il SEM è dotato dell’innovativa tecnologia BrightBeamTM che combina una lente obiettivo elettrostatica/elettromagnetica con un sistema di rivelazione di nuova concezione. Il design della lente permette di lavorare ad altissima risoluzione anche alle bassissime tensioni di accelerazione (fino a 50eV). In aggiunta, il nuovo sistema di rivelatori permette la selezione dei segnali raccolti secondo il loro angolo di take off o la loro energia, garantendo in questo modo la raccolta di nuove informazioni sulla topografia e sulla natura chimica del campione.

Il FE-SEM CLARA è uno strumento altamente versatile, ideale per la caratterizzazione dei nanomateriali, per rigorosi controlli qualitativi su prodotti a elevato contenuto tecnologico e per l’industria dei semiconduttori.

Il nuovissimo UHR FE-SEM TESCAN CLARA è un microscopio elettronico a scansione ad ultra-alta risoluzione progettato per garantire elevatissime performance di imaging e di analisi sui più diversi campioni nelle più diverse condizioni operative. Il SEM è dotato dell’innovativa tecnologia BrightBeamTM che combina una lente obiettivo elettrostatica/elettromagnetica con un sistema di rivelazione di nuova concezione. Il design della lente permette di lavorare ad altissima risoluzione anche alle bassissime tensioni di accelerazione (fino a 50eV). In aggiunta, il nuovo sistema di rivelatori permette la selezione dei segnali raccolti secondo il loro angolo di take off o la loro energia, garantendo in questo modo la raccolta di nuove informazioni sulla topografia e sulla natura chimica del campione.

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