Pensato per la caratterizzazione di campioni e materiali difficilmente gestibili con una colonna ionica al Ga, il sistema combina la colonna elettronica BrightBeamTM, che garantisce elevata risoluzione produttività, alla colonna ionica iFIB+TM al gas di Xenon. Il Plasma a ioni di Xenon consente di rimuovere elevate quantità di materiale e, data la natura inerte del gas, di ottenere preparazioni di campioni esenti da contaminazioni di Ga.
UHR FE-SEM FIB AMBER X
Sistemi UHR FE-SEM FIB con Colonna Ionica al Plasma di Xenon
Il nuovo UHR FE-SEM FIB TESCAN AMBER X è un Plasma FIB analitico ad Ultra Alta Risoluzione UHR.
Il nuovo UHR FE-SEM FIB TESCAN AMBER X è un Plasma FIB analitico ad Ultra Alta Risoluzione UHR.
Le caratteristiche principali della serie AMBER X sono:
- Colonna elettronica TESCAN BrightBeamTM Field-Free UHR-SEM
- Tipologia emettitore: di tipo Schottky termoassistita
- Risoluzione: 0,9 nm @ 15kV – 1,5 nm @ 1 kV
- Corrente di sonda: da 2 pA a 400 nA
- Rivelatori standard: ET-SE, BSE, Multidetector, Axial Detector
- Colonna Ionica iFIB+TM al gas di Xenon
- Risoluzione: <15 nm @ 30kV
- Tavolino portacampioni motorizzato su 5 assi
- Ingrandimenti: da 1 X a 1.000.000 X
- Software di Gestione EssenceTM con 3D Collision Model
- Decontaminatore al Plasma integrato
Pensato per la caratterizzazione di campioni e materiali difficilmente gestibili con una colonna ionica al Ga, il sistema combina la colonna elettronica BrightBeamTM, che garantisce elevata risoluzione produttività, alla colonna ionica iFIB+TM al gas di Xenon. Il Plasma a ioni di Xenon consente di rimuovere elevate quantità di materiale e, data la natura inerte del gas, di ottenere preparazioni di campioni esenti da contaminazioni di Ga.
Le caratteristiche principali della serie AMBER X sono:
- Colonna elettronica TESCAN BrightBeamTM Field-Free UHR-SEM
- Tipologia emettitore: di tipo Schottky termoassistita
- Risoluzione: 0,9 nm @ 15kV – 1,5 nm @ 1 kV
- Corrente di sonda: da 2 pA a 400 nA
- Rivelatori standard: ET-SE, BSE, Multidetector, Axial Detector
- Colonna Ionica iFIB+TM al gas di Xenon
- Risoluzione: <15 nm @ 30kV
- Tavolino portacampioni motorizzato su 5 assi
- Ingrandimenti: da 1 X a 1.000.000 X
- Software di Gestione EssenceTM con 3D Collision Model
- Decontaminatore al Plasma integrato
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