UHR FE-SEM FIB AMBER

Sistemi UHR FE-SEM FIB con Colonna Ionica al Gallio

UHR FE-SEM FIB AMBER

Sistemi UHR FE-SEM FIB con Colonna Ionica al Gallio

Il nuovo UHR FE-SEM FIB TESCAN AMBER è stato progettato per l’ottenimento di una grande flessibilità e versatilità d’utilizzo.

Il nuovo UHR FE-SEM FIB TESCAN AMBER è stato progettato per l’ottenimento di una grande flessibilità e versatilità d’utilizzo.

La sinergia tra la sua colonna elettronica BrightBeamTM e la colonna ionica OrageTM al Ga, allo stato dell’arte, lo rendono una soluzione ideale sia per la caratterizzazione avanzata dei materiali sia per applicazioni di preparazione campioni nella scala micro/nanometrica.

Le caratteristiche principali della serie AMBER sono:

  • Colonna elettronica BrightBeamTM Field-Free UHR-SEM
  • Tipologia emettitore: di tipo Schottky termoassistita
  • Risoluzione: 0,9 nm @ 15kV – 1,5 nm @ 1 kV
  • Corrente di sonda: da 2 pA a 400 nA
  • Rivelatori standard: ET-SE, BSE, Multidetector, Axial Detector
  • Colonna Ionica OrageTM con sorgente LMIS
  • Risoluzione: 2,5 nm @ 30kV
  • Tavolino portacampioni motorizzato su 5 assi
  • Ingrandimenti: da 1 X a 1.000.000 X
  • Software di Gestione EssenceTM con 3D Collision Model
  • Decontaminatore al Plasma integrato

La sinergia tra la sua colonna elettronica BrightBeamTM e la colonna ionica OrageTM al Ga, allo stato dell’arte, lo rendono una soluzione ideale sia per la caratterizzazione avanzata dei materiali sia per applicazioni di preparazione campioni nella scala micro/nanometrica.

Le caratteristiche principali della serie AMBER sono:

  • Colonna elettronica BrightBeamTM Field-Free UHR-SEM
  • Tipologia emettitore: di tipo Schottky termoassistita
  • Risoluzione: 0,9 nm @ 15kV – 1,5 nm @ 1 kV
  • Corrente di sonda: da 2 pA a 400 nA
  • Rivelatori standard: ET-SE, BSE, Multidetector, Axial Detector
  • Colonna Ionica OrageTM con sorgente LMIS
  • Risoluzione: 2,5 nm @ 30kV
  • Tavolino portacampioni motorizzato su 5 assi
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