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ZSX Primus IVi

ZSX Primus IVi

WDXRF ad alta potenza, automatico

ZSX Primus IVi

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WDXRF ad alta potenza, automatico

Spettrometro a raggi X ad elevata potenza (4 kW) con cambia-campioni automatico integrato.

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Spettrometro a raggi X ad elevata potenza (4 kW) con cambia-campioni automatico integrato.

CaratteristicheSpecifiche tecniche

Analisi di tutti gli elementi dal berillio all’uranio da frazioni di ppm al 100%. Geometria della camera spettrometrica con tubo sotto il campione, particolarmente indicato per l’analisi dei liquidi, ma ugualmente utilizzabile per l’analisi di campioni solidi, perle, polveri, sia pressate che non; la presenta di una partizione, che separa la camera spettrometrica da quella portacampioni, garantisce l’assenza di contaminazioni da polveri o liquidi che potrebbero diffondersi nel sistema a causa di una non corretta preparazione dei campioni. Finestra del tubo in Be ultra-sottile (30 micron) di serie per una migliore eccitazione degli elementi leggeri. Dimensione massima del campione: a 52 mm di diametro e 30 mm di spessore. Analisi qualitative, semiquantitative “standardless” e quantitative. Possibilità di mappare la distribuzione degli elementi con spot fino a 0.5 mm di diametro. Impiegato con successo sia nel controllo qualità che nella ricerca e sviluppo.

CaratteristicheSpecifiche tecniche

Analisi di tutti gli elementi dal berillio all’uranio da frazioni di ppm al 100%. Geometria della camera spettrometrica con tubo sotto il campione, particolarmente indicato per l’analisi dei liquidi, ma ugualmente utilizzabile per l’analisi di campioni solidi, perle, polveri, sia pressate che non; la presenta di una partizione, che separa la camera spettrometrica da quella portacampioni, garantisce l’assenza di contaminazioni da polveri o liquidi che potrebbero diffondersi nel sistema a causa di una non corretta preparazione dei campioni. Finestra del tubo in Be ultra-sottile (30 micron) di serie per una migliore eccitazione degli elementi leggeri. Dimensione massima del campione: a 52 mm di diametro e 30 mm di spessore. Analisi qualitative, semiquantitative “standardless” e quantitative. Possibilità di mappare la distribuzione degli elementi con spot fino a 0.5 mm di diametro. Impiegato con successo sia nel controllo qualità che nella ricerca e sviluppo.

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